Hanke detail
Dual Beam Focused Ion Beam süsteem ja transmissioonelektronmikroskoop
Kokkuvõte
Hange puudutab kahe seadme tarnet: Dual Beam Focused Ion Beam süsteemi (FIB) ja transmissioonelektronmikroskoobi (TEM) ostu. Pakkuja peab arvestama seadmete tarnimise, paigaldamise, kasutuselevõtu, töövalmis üleandmise, juhendamise/koolituse ning täieliku süsteemdokumentatsiooni esitamisega. Täpsed tehnilised nõuded ja hindamisaspektid on eraldi dokumentides.
Rohkem hankeinfot sisselogimisel
Avalik vaade näitab hanke põhiandmeid. Logi sisse, et avada ametlikud lingid, dokumendid ja AI hankeabi.