Hanke detail

Metrology SEM+FIB süsteem

Kokkuvõte

Hange puudutab ühe SEM+FIB süsteemi tarnimist. Seadet kasutatakse materjali freesimiseks ehk lõikamiseks, 3D iseloomustamiseks ja ristlõigete analüüsiks InP-alustel kasvatatud kihtidel. Masin peab sobima ka polümeeripõhiste tasanduskihtide, SiOx- või SiNx-dielektrikihtide ning TiPtAu- või NiGeAu-metallkihtidega struktuuride uurimiseks.

Viitenumber
519634-2026
Hankija
Nederlandse Organisatie voor toegepast-natuurwetenschappelijk onderzoek TNO
Riik
Holland (NLD)
Hanke liik
Avatud menetlus
CPV
31712000 Mikroelektroonilised masinad ja aparaadid ning mikrosüsteemid
Tähtaeg
2026-08-17
Staatus
Avatud
Lepingu ese
Asjad
Eeldatav maksumus
1 300 000,00 EUR
Allikas
TED

Rohkem hankeinfot sisselogimisel

Avalik vaade näitab hanke põhiandmeid. Logi sisse, et avada ametlikud lingid, dokumendid ja AI hankeabi.